Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах. Особенности Основные преимущества JPS-9030: Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений- Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца- Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS)- Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум- Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°-C и выше- Высоко­
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.
Особенности
Основные преимущества JPS-9030:
- Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений-
- Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца-
- Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS)-
- Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум-
- Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°-C и выше-
- Высоковакуумный транспортировочный контейнер предохраняет образцы от контакта с атмосферой при переноске.
- Интуитивно понятный пользовательский интерфейс.
Рентгеновский источник
Анод Al/Mg
Ускоряющее напряжение 3-12 кВ
Ток катод-анод 2,5-50мА
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Mg Ka, 300 Вт)
Разрешение (Ag 3d5/2, ПШПВ) 1,0 эВ
Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Интенсивность пика более 1 000 000 имп./с
Анализатор энергии электронов
Тип анализатора полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты 100 мм
Детектор микроканальная пластина
Входные линзы комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям Constant Analyzer Energy (CAE)
Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения 5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии 0 &ndash- 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования 0,025 эВ
Энергетическое разрешение &Delta-E/E (CRR) от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов
Диапазон перемещений образца X: 50 мм- Y: 18 мм- Z: ±-2 мм, T (наклон): от -10 до +10°-
Максимальный размер образца 90 мм в диаметре- 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов 7×-10-8 -Па и ниже
Система отжига Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки Камера подготовки образцов
Газовый реактор
Вторично-ионный масс-спектрометр
Приставка для нагрева и охлаждения образцов
Высоковакуумный транспортировочный контейнер -
*возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.
id позиции 5406027
SHOW IN FULL ≚
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.
Особенности
Основные преимущества JPS-9030:
- Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений-
- Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца-
- Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS)-
- Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум-
- Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°-C и выше-
- Высоковакуумный транспортировочный контейнер предохраняет образцы от контакта с атмосферой при переноске.
- Интуитивно понятный пользовательский интерфейс.
Рентгеновский источник
|
Анод | Al/Mg |
Ускоряющее напряжение | 3-12 кВ |
Ток катод-анод | 2,5-50мА |
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Mg Ka, 300 Вт) |
Разрешение (Ag 3d5/2, ПШПВ) | 1,0 эВ |
Максимальная мощность | 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al) |
Интенсивность пика | более 1 000 000 имп./с |
Анализатор энергии электронов
|
Тип анализатора | полусферический электростатический |
Радиус центральной орбиты | 100 мм |
Детектор | микроканальная пластина |
Входные линзы | комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора |
Развертка по энергиям | Constant Analyzer Energy (CAE) Constant Retarding Ratio (CRR) |
Энергия прохождения | 5-200 эВ |
Диапазон сканирования по энергии | 0 &ndash- 1480 эВ |
Минимальный шаг сканирования | 0,025 эВ |
Энергетическое разрешение &Delta-E/E (CRR) | от 0,15 до 0,5 % |
Столик образцов
|
Диапазон перемещений образца | X: 50 мм- Y: 18 мм- Z: ±-2 мм, T (наклон): от -10 до +10°- |
Максимальный размер образца | 90 мм в диаметре- 1,5 мм высотой |
Вакуумная система |
Давление в камере образцов | 7×-10-8 -Па и ниже |
Система отжига | Встроенная, автоматическая |
Устанавливаемые приставки | Камера подготовки образцов
Газовый реактор Вторично-ионный масс-спектрометр Приставка для нагрева и охлаждения образцов Высоковакуумный транспортировочный контейнер - *возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd. |
Competitor's products
|
SCiO Cup, портативный БИК-спектрометр для мгновенного анализа влажности кормов
|
|
Атомно-абсорбционный спектрометр А-2
|
|
NIRFlex N-500 ИК-Фурье спектрометр (для лабораторий)
|
|
Фотолитический TOF-MS спектрометр
|
|
Спектрометр FT-NIR MATRIX-I
|
|
Лупа настольная 20701 на струбцине х8 с подсветкой
|
|
Рефрактометр ИРФ-454 Б2М с подсветкой и дополнительной шкалой
|
|
Лампа с лупой бестеневая МЕГЕОН 02803
|
|
45010 Измерительные кольца большие, алюминий, 13 колец, диаметр 30-90 мм, градация 5 мм
|
|
Люксметр ТКА-Люкс с поверкой
|
|
Лупа измерительная ЛИ-3-10
|
|
Высокоскоростной атомно-эмиссионный спектрометр c индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000
|
|