Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 от JEOL

check the price

retail & wholesale

in stock

☎ show phone

Add to cart

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов. Особенности Основные преимущества JPS-9200: Из двух рентгеновских пушек, входящих в состав спектрометра, одна работает в связке с монохроматором, а другая представляет собой двуханодную Mg/Al систему- Ионная пушка усовершенствованной конструкции позволяет не только снимать заряд, накопившийся на непроводящем образце и очищать поверхность от оксидных пленок, но и быстро и эффективно проводить травление при послойном анализе фазового состава- Локальность анализа можно изменять от 30 мкм до 3 мм. Сканирование поверхности образца осуществляется перемещением столика образцов. При этом максимальная площадь карты распределения элементов и фаз по поверхности образца составляет 50 мм х 18 мм- На входе полусферического электростатического анализатора энергий электронов установлена электромагнитная линза, которая очень эффективно собирает электроны, покидающие поверхность образца, и тем самым повышает чувствительность прибора более, чем в 20 раз. Кроме того, уже в базовый функционал JPS-9200 включен режим рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS), позволяющий обнаруживать примеси с концентрациями до 1011 -атомов/см2- Большой столик образцов моторизован по 4 осям и позволяет работать с объектами диаметром до 90 мм- Новое программное обеспечение для анализа поверхности

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.

Особенности

Основные преимущества JPS-9200:

Из двух рентгеновских пушек, входящих в состав спектрометра, одна работает в связке с монохроматором, а другая представляет собой двуханодную Mg/Al систему-
Ионная пушка усовершенствованной конструкции позволяет не только снимать заряд, накопившийся на непроводящем образце и очищать поверхность от оксидных пленок, но и быстро и эффективно проводить травление при послойном анализе фазового состава-
Локальность анализа можно изменять от 30 мкм до 3 мм. Сканирование поверхности образца осуществляется перемещением столика образцов. При этом максимальная площадь карты распределения элементов и фаз по поверхности образца составляет 50 мм х 18 мм-
На входе полусферического электростатического анализатора энергий электронов установлена электромагнитная линза, которая очень эффективно собирает электроны, покидающие поверхность образца, и тем самым повышает чувствительность прибора более, чем в 20 раз. Кроме того, уже в базовый функционал JPS-9200 включен режим рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS), позволяющий обнаруживать примеси с концентрациями до 1011 -атомов/см2-
Большой столик образцов моторизован по 4 осям и позволяет работать с объектами диаметром до 90 мм-
Новое программное обеспечение для анализа поверхности использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров. Это освобождает оператора от проведения сложных расчетов, требующих большого опыта работы в области рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии-
Возможность устанавливать разнообразные приставки (камера подготовки образцов, газовый реактор, вторично-ионный масс-спектрометр, приставка для нагрева и охлаждения образцов и др.).

Рентгеновский источник

Анод Al/Mg
Ускоряющее напряжение 3-12 кВ
Ток катод-анод 2,5-50мА
Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Охлаждение водяное
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Mg Ka, 300 Вт)

Разрешение
0,9 эВ
Рентгеновский источник с монохроматором
Анод Al
Ускоряющее напряжение 3-12 кВ
Ток катод-анод 2,5-50мА
Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Охлаждение водяное
Радиус круга Роланда 200 мм
Кристалл кварц
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Al Ka -600 Вт) более 100 000 имп./с
Энергетическое разрешение 0,65 эВ
Анализатор энергии электронов

Тип анализатора полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты 100 мм
Детектор многоканальный
Входные линзы комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям Constant Analyzer Energy (CAE)
Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения 5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии 0 &ndash- 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования 0,025 эВ
Энергетическое разрешение &Delta-E/E (CRR) от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов

Диапазон перемещений образца X: 50 мм- Y: 18 мм- Z: ±-2 мм, T (наклон): от -10 до +10°-
Максимальный размер образца 90 мм в диаметре- 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов 7×-10-8 -Па и ниже
Система отжига Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки Камера подготовки образцов

Газовый реактор
Вторично-ионный масс-спектрометр
Приставка для нагрева и охлаждения образцов
Высоковакуумный транспортировочный контейнер -
*возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.

id позиции 5406028

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.

Особенности

Основные преимущества JPS-9200:

Из двух рентгеновских пушек, входящих в состав спектрометра, одна работает в связке с монохроматором, а другая представляет собой двуханодную Mg/Al систему-
Ионная пушка усовершенствованной конструкции позволяет не только снимать заряд, накопившийся на непроводящем образце и очищать поверхность от оксидных пленок, но и быстро и эффективно проводить травление при послойном анализе фазового состава-
Локальность анализа можно изменять от 30 мкм до 3 мм. Сканирование поверхности образца осуществляется перемещением столика образцов. При этом максимальная площадь карты распределения элементов и фаз по поверхности образца составляет 50 мм х 18 мм-
На входе полусферического электростатического анализатора энергий электронов установлена электромагнитная линза, которая очень эффективно собирает электроны, покидающие поверхность образца, и тем самым повышает чувствительность прибора более, чем в 20 раз. Кроме того, уже в базовый функционал JPS-9200 включен режим рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS), позволяющий обнаруживать примеси с концентрациями до 1011 -атомов/см2-
Большой столик образцов моторизован по 4 осям и позволяет работать с объектами диаметром до 90 мм-
Новое программное обеспечение для анализа поверхности использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров. Это освобождает оператора от проведения сложных расчетов, требующих большого опыта работы в области рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии-
Возможность устанавливать разнообразные приставки (камера подготовки образцов, газовый реактор, вторично-ионный масс-спектрометр, приставка для нагрева и охлаждения образцов и др.).

Рентгеновский источник
Анод	Al/Mg
Ускоряющее напряжение	3-12 кВ
Ток катод-анод	2,5-50мА
Максимальная мощность	500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Охлаждение	водяное
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Mg Ka, 300 Вт)
Разрешение	0,9 эВ
Рентгеновский источник с монохроматором
Анод	Al
Ускоряющее напряжение	3-12 кВ
Ток катод-анод	2,5-50мА
Максимальная мощность	500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Охлаждение	водяное
Радиус круга Роланда	200 мм
Кристалл	кварц
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Al Ka -600 Вт)	более 100 000 имп./с
Энергетическое разрешение	0,65 эВ
Анализатор энергии электронов
Тип анализатора	полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты	100 мм
Детектор	многоканальный
Входные линзы	комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям	Constant Analyzer Energy (CAE) Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения	5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии	0 &ndash- 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования	0,025 эВ
Энергетическое разрешение &Delta-E/E (CRR)	от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов
Диапазон перемещений образца	X: 50 мм- Y: 18 мм- Z: ±-2 мм, T (наклон): от -10 до +10°-
Максимальный размер образца	90 мм в диаметре- 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов	7×-10-8 -Па и ниже
Система отжига	Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки	Камера подготовки образцов Газовый реактор Вторично-ионный масс-спектрометр Приставка для нагрева и охлаждения образцов Высоковакуумный транспортировочный контейнер - *возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.