Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 от JEOL
check the price
retail & wholesale
in stock
☎ show phone
Add to cart
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов. Особенности Основные преимущества JPS-9200: Из двух рентгеновских пушек, входящих в состав спектрометра, одна работает в связке с монохроматором, а другая представляет собой двуханодную Mg/Al систему- Ионная пушка усовершенствованной конструкции позволяет не только снимать заряд, накопившийся на непроводящем образце и очищать поверхность от оксидных пленок, но и быстро и эффективно проводить травление при послойном анализе фазового состава- Локальность анализа можно изменять от 30 мкм до 3 мм. Сканирование поверхности образца осуществляется перемещением столика образцов. При этом максимальная площадь карты распределения элементов и фаз по поверхности образца составляет 50 мм х 18 мм- На входе полусферического электростатического анализатора энергий электронов установлена электромагнитная линза, которая очень эффективно собирает электроны, покидающие поверхность образца, и тем самым повышает чувствительность прибора более, чем в 20 раз. Кроме того, уже в базовый функционал JPS-9200 включен режим рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS), позволяющий обнаруживать примеси с концентрациями до 1011 -атомов/см2- Большой столик образцов моторизован по 4 осям и позволяет работать с объектами диаметром до 90 мм- Новое программное обеспечение для анализа поверхности
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.
Особенности
Основные преимущества JPS-9200:
Из двух рентгеновских пушек, входящих в состав спектрометра, одна работает в связке с монохроматором, а другая представляет собой двуханодную Mg/Al систему-
Ионная пушка усовершенствованной конструкции позволяет не только снимать заряд, накопившийся на непроводящем образце и очищать поверхность от оксидных пленок, но и быстро и эффективно проводить травление при послойном анализе фазового состава-
Локальность анализа можно изменять от 30 мкм до 3 мм. Сканирование поверхности образца осуществляется перемещением столика образцов. При этом максимальная площадь карты распределения элементов и фаз по поверхности образца составляет 50 мм х 18 мм-
На входе полусферического электростатического анализатора энергий электронов установлена электромагнитная линза, которая очень эффективно собирает электроны, покидающие поверхность образца, и тем самым повышает чувствительность прибора более, чем в 20 раз. Кроме того, уже в базовый функционал JPS-9200 включен режим рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS), позволяющий обнаруживать примеси с концентрациями до 1011 -атомов/см2-
Большой столик образцов моторизован по 4 осям и позволяет работать с объектами диаметром до 90 мм-
Новое программное обеспечение для анализа поверхности использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров. Это освобождает оператора от проведения сложных расчетов, требующих большого опыта работы в области рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии-
Возможность устанавливать разнообразные приставки (камера подготовки образцов, газовый реактор, вторично-ионный масс-спектрометр, приставка для нагрева и охлаждения образцов и др.).
Рентгеновский источник
Анод Al/Mg Ускоряющее напряжение 3-12 кВ Ток катод-анод 2,5-50мА Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al) Охлаждение водяное Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Mg Ka, 300 Вт)
Разрешение 0,9 эВ Рентгеновский источник с монохроматором Анод Al Ускоряющее напряжение 3-12 кВ Ток катод-анод 2,5-50мА Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al) Охлаждение водяное Радиус круга Роланда 200 мм Кристалл кварц Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Al Ka -600 Вт) более 100 000 имп./с Энергетическое разрешение 0,65 эВ Анализатор энергии электронов
Тип анализатора полусферический электростатический Радиус центральной орбиты 100 мм Детектор многоканальный Входные линзы комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора Развертка по энергиям Constant Analyzer Energy (CAE) Constant Retarding Ratio (CRR) Энергия прохождения 5-200 эВ Диапазон сканирования по энергии 0 &ndash- 1480 эВ Минимальный шаг сканирования 0,025 эВ Энергетическое разрешение &Delta-E/E (CRR) от 0,15 до 0,5 % Столик образцов
Диапазон перемещений образца X: 50 мм- Y: 18 мм- Z: ±-2 мм, T (наклон): от -10 до +10°- Максимальный размер образца 90 мм в диаметре- 1,5 мм высотой Вакуумная система Давление в камере образцов 7×-10-8 -Па и ниже Система отжига Встроенная, автоматическая Устанавливаемые приставки Камера подготовки образцов
Газовый реактор Вторично-ионный масс-спектрометр Приставка для нагрева и охлаждения образцов Высоковакуумный транспортировочный контейнер - *возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.
id позиции 5406028
SHOW IN FULL ≚
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.
Особенности
Основные преимущества JPS-9200:
Из двух рентгеновских пушек, входящих в состав спектрометра, одна работает в связке с монохроматором, а другая представляет собой двуханодную Mg/Al систему-
Ионная пушка усовершенствованной конструкции позволяет не только снимать заряд, накопившийся на непроводящем образце и очищать поверхность от оксидных пленок, но и быстро и эффективно проводить травление при послойном анализе фазового состава-
Локальность анализа можно изменять от 30 мкм до 3 мм. Сканирование поверхности образца осуществляется перемещением столика образцов. При этом максимальная площадь карты распределения элементов и фаз по поверхности образца составляет 50 мм х 18 мм-
На входе полусферического электростатического анализатора энергий электронов установлена электромагнитная линза, которая очень эффективно собирает электроны, покидающие поверхность образца, и тем самым повышает чувствительность прибора более, чем в 20 раз. Кроме того, уже в базовый функционал JPS-9200 включен режим рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS), позволяющий обнаруживать примеси с концентрациями до 1011 -атомов/см2-
Большой столик образцов моторизован по 4 осям и позволяет работать с объектами диаметром до 90 мм-
Новое программное обеспечение для анализа поверхности использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров. Это освобождает оператора от проведения сложных расчетов, требующих большого опыта работы в области рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии-
Возможность устанавливать разнообразные приставки (камера подготовки образцов, газовый реактор, вторично-ионный масс-спектрометр, приставка для нагрева и охлаждения образцов и др.).
Рентгеновский источник
Анод
Al/Mg
Ускоряющее напряжение
3-12 кВ
Ток катод-анод
2,5-50мА
Максимальная мощность
500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Охлаждение
водяное
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Mg Ka, 300 Вт)
Разрешение
0,9 эВ
Рентгеновский источник с монохроматором
Анод
Al
Ускоряющее напряжение
3-12 кВ
Ток катод-анод
2,5-50мА
Максимальная мощность
500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Охлаждение
водяное
Радиус круга Роланда
200 мм
Кристалл
кварц
Интенсивность пика Ag 3d5/2 -(возбуждение Al Ka -600 Вт)
более 100 000 имп./с
Энергетическое разрешение
0,65 эВ
Анализатор энергии электронов
Тип анализатора
полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты
100 мм
Детектор
многоканальный
Входные линзы
комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям
Constant Analyzer Energy (CAE) Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения
5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии
0 &ndash- 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования
0,025 эВ
Энергетическое разрешение &Delta-E/E (CRR)
от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов
Диапазон перемещений образца
X: 50 мм- Y: 18 мм- Z: ±-2 мм, T (наклон): от -10 до +10°-
Максимальный размер образца
90 мм в диаметре- 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов
7×-10-8 -Па и ниже
Система отжига
Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки
Камера подготовки образцов
Газовый реактор Вторично-ионный масс-спектрометр Приставка для нагрева и охлаждения образцов Высоковакуумный транспортировочный контейнер - *возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.
id позиции
5406028
Competitor's products
SCiO Cup, портативный БИК-спектрометр для мгновенного анализа влажности кормов
Атомно-абсорбционный спектрометр А-2
NIRFlex N-500 ИК-Фурье спектрометр (для лабораторий)
Фотолитический TOF-MS спектрометр
Спектрометр FT-NIR MATRIX-I
Лупа настольная 20701 на струбцине х8 с подсветкой
Рефрактометр ИРФ-454 Б2М с подсветкой и дополнительной шкалой
Лампа с лупой бестеневая МЕГЕОН 02803
45010 Измерительные кольца большие, алюминий, 13 колец, диаметр 30-90 мм, градация 5 мм
Люксметр ТКА-Люкс с поверкой
Лупа измерительная ЛИ-3-10
Высокоскоростной атомно-эмиссионный спектрометр c индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000