Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от -JEOL (Япония). Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов. Особенности Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 &ndash- это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов. JXA-8230 позволяет получать не только прекрасные результаты количественного анализа, но и отличного качества изображения поверхности образца во вторичных электронах (разрешение 5нм), исследовать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи спектрометров с дисперсией по энергии или по длинам волн, а также изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов, по сути, работая в режиме растрового электронного микроскопа. Ключевыми преимуществами электронно-зондового микроанализатора JXA-8230 над растровыми электронными микроскопами являются: высокая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка- высочайшая стабильность и точность перемещения столика образцов- Возможность работы в полностью автоматическом режиме: оператор днем задает точки анализа, микроанализатор ночью собирает данные- высокая чувствительность по следовым элементам- высокая производительность, благодаря
Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от -JEOL (Япония).
Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.
Особенности
Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 &ndash- это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.
JXA-8230 позволяет получать не только прекрасные результаты количественного анализа, но и отличного качества изображения поверхности образца во вторичных электронах (разрешение 5нм), исследовать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи спектрометров с дисперсией по энергии или по длинам волн, а также изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов, по сути, работая в режиме растрового электронного микроскопа.
Ключевыми преимуществами электронно-зондового микроанализатора JXA-8230 над растровыми электронными микроскопами являются:
- высокая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка-
- высочайшая стабильность и точность перемещения столика образцов-
- Возможность работы в полностью автоматическом режиме: оператор днем задает точки анализа, микроанализатор ночью собирает данные-
- высокая чувствительность по следовым элементам-
- высокая производительность, благодаря одновременной работе до5 волновых и одного энергодисперсионного спектрометров.
По желанию заказчика JXA-8230 комплектуется системой катодолюминесценции. Она позволяет регистрировать спектры свечения образцов под воздействием электронного пучка и проводить картирование поверхности на определенных длинах волн. На выбор доступны два типа систем: подключаемые через оптический микроскоп (разработка компании JEOL Australia) и через порт волнового спектрометра (разработка компании Gatan). Первые из них подключаются к окуляру встроенного в микрозонд оптического микроскопа и позволяют регистрировать катодолюминесценцию в процессе работы с волновыми спектрометрами. Вторые покрывают более широкий спектральный диапазон (от жёсткого ультрафиолета до мягкого инфракрасного излучения), но требует наличия свободного WDS-порта.
Основные преимущества:
- Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка (отклонение не более 0,3% за 12 часов) обеспечивает высокую точность анализа-
- Электронно-оптическая колонна JXA-8230 позволяет получать изображения хорошего качества даже на больших рабочих отрезках (5 нм на рабочем отрезке 11 мм)-
- Возможность выбора оператором катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований-
- Мощная электронная пушка обеспечивает широкий диапазон токов пучка (от 1 пА до 10 мкА)-
- Микрозонд JXA-8230 комплектуется энергодисперсионным спектрометром и 1-5 спектрометрами с волновой дисперсией. Последние делятся на 2 типа: высокого спектрального разрешения (используются для фазового анализа) и высокой интенсивности (для анализа состава малых примесей)-
- Большой выбор кристаллов для анализа тяжелых и легких элементов-
- Высокое энергетическое разрешение спектрометров с дисперсией по длинам волн позволяет регистрировать химические сдвиги линий элементов и точно устанавливать фазовый состав образцов-
- Точный анализ даже таких легких элементов, как бериллий, бор, углерод, азот и кислород-
- Высокая механическая стабильность и высокая точность перемещений столика образцов (воспроизводимость положения столика не хуже 0,5мкм)-
- Большой столик образцов позволяет работать с объектами размерами до 100 мм х 100 мм х 50 мм-
- Вакуумная система с двухстадийной дифференциальной откачкой-
- Возможность устанавливать множество разнообразных приставок (энергодисперсионный спектрометр, система дифракции отраженных электронов, система катодолюминесценции, рентгеновский микрофокусный источник и т.д.)-
- Возможность установки системы проходящего поляризованного света и работы с прозрачно-полированными пластинами.
Электронно-оптическая система
Источник электронов Катод из вольфрама или гексаборида лантана
Диапазон ускоряющих напряжений 0,2 - 30 кВ (с шагом 100 В)
Диапазон токов пучка 1 пА - 10 мкА
Стабильность тока пучка Не более 0,05% в час
И не более 0,3% за 12 часов
Разрешение на аналитическом рабочем отрезке (11 мм) 5 нм при использовании катода на основе монокристалла LaB6
6 нм при использовании вольфрамового катода
Диапазон увеличений от x40 до х300,000
Изображения, получаемые с детектора отраженных электронов Топология поверхности и контраст по атомному номеру
Цифровое разрешение получаемых изображений До 5120х3840 пикселов
Диаметр зонда 40 нм при 10 кВ и 10 нА
100 нм при 10 кВ и 100 нА
Система микроанализа
Диапазон анализируемых элементов На спектрометрах с дисперсией по длинам волн: от -4Be до -92U
На энергодисперсионном спектрометре: от -5B до -92U
Количество спектрометров С дисперсией по длинам волн: от 1 до 5
Энергодисперсионных: 1
Диапазон детектируемых длин волн От 0,087 до 9,3 нм
Столик образцов
Диапазон перемещений образца X: ±-90 мм- Y: ±-90 мм
Максимальный размер образца 150 мм х 150 мм х 50 мм
Скорость перемещений столика образцов До 15 мм/с
Точность позиционирования столика образцов Не более 0,5 мкм
Приставки
Устанавливаемые приставки Столик для образцов больших размеров
Система катодолюминесценции
Система дифракции отраженных электронов (ДОРЭ)
id позиции 5406029
SHOW IN FULL ≚
Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от -JEOL (Япония).
Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.
Особенности
Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 &ndash- это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.
JXA-8230 позволяет получать не только прекрасные результаты количественного анализа, но и отличного качества изображения поверхности образца во вторичных электронах (разрешение 5нм), исследовать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи спектрометров с дисперсией по энергии или по длинам волн, а также изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов, по сути, работая в режиме растрового электронного микроскопа.
Ключевыми преимуществами электронно-зондового микроанализатора JXA-8230 над растровыми электронными микроскопами являются:
- высокая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка-
- высочайшая стабильность и точность перемещения столика образцов-
- Возможность работы в полностью автоматическом режиме: оператор днем задает точки анализа, микроанализатор ночью собирает данные-
- высокая чувствительность по следовым элементам-
- высокая производительность, благодаря одновременной работе до5 волновых и одного энергодисперсионного спектрометров.
По желанию заказчика JXA-8230 комплектуется системой катодолюминесценции. Она позволяет регистрировать спектры свечения образцов под воздействием электронного пучка и проводить картирование поверхности на определенных длинах волн. На выбор доступны два типа систем: подключаемые через оптический микроскоп (разработка компании JEOL Australia) и через порт волнового спектрометра (разработка компании Gatan). Первые из них подключаются к окуляру встроенного в микрозонд оптического микроскопа и позволяют регистрировать катодолюминесценцию в процессе работы с волновыми спектрометрами. Вторые покрывают более широкий спектральный диапазон (от жёсткого ультрафиолета до мягкого инфракрасного излучения), но требует наличия свободного WDS-порта.
Основные преимущества:
- Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка (отклонение не более 0,3% за 12 часов) обеспечивает высокую точность анализа-
- Электронно-оптическая колонна JXA-8230 позволяет получать изображения хорошего качества даже на больших рабочих отрезках (5 нм на рабочем отрезке 11 мм)-
- Возможность выбора оператором катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований-
- Мощная электронная пушка обеспечивает широкий диапазон токов пучка (от 1 пА до 10 мкА)-
- Микрозонд JXA-8230 комплектуется энергодисперсионным спектрометром и 1-5 спектрометрами с волновой дисперсией. Последние делятся на 2 типа: высокого спектрального разрешения (используются для фазового анализа) и высокой интенсивности (для анализа состава малых примесей)-
- Большой выбор кристаллов для анализа тяжелых и легких элементов-
- Высокое энергетическое разрешение спектрометров с дисперсией по длинам волн позволяет регистрировать химические сдвиги линий элементов и точно устанавливать фазовый состав образцов-
- Точный анализ даже таких легких элементов, как бериллий, бор, углерод, азот и кислород-
- Высокая механическая стабильность и высокая точность перемещений столика образцов (воспроизводимость положения столика не хуже 0,5мкм)-
- Большой столик образцов позволяет работать с объектами размерами до 100 мм х 100 мм х 50 мм-
- Вакуумная система с двухстадийной дифференциальной откачкой-
- Возможность устанавливать множество разнообразных приставок (энергодисперсионный спектрометр, система дифракции отраженных электронов, система катодолюминесценции, рентгеновский микрофокусный источник и т.д.)-
- Возможность установки системы проходящего поляризованного света и работы с прозрачно-полированными пластинами.
| Электронно-оптическая система |
| Источник электронов | Катод из вольфрама или гексаборида лантана |
| Диапазон ускоряющих напряжений | 0,2 - 30 кВ (с шагом 100 В) |
| Диапазон токов пучка | 1 пА - 10 мкА |
| Стабильность тока пучка | Не более 0,05% в час
И не более 0,3% за 12 часов |
| Разрешение на аналитическом рабочем отрезке (11 мм) | 5 нм при использовании катода на основе монокристалла LaB6
6 нм при использовании вольфрамового катода |
| Диапазон увеличений | от x40 до х300,000 |
| Изображения, получаемые с детектора отраженных электронов | Топология поверхности и контраст по атомному номеру |
| Цифровое разрешение получаемых изображений | До 5120х3840 пикселов |
| Диаметр зонда | 40 нм при 10 кВ и 10 нА
100 нм при 10 кВ и 100 нА |
| Система микроанализа |
| Диапазон анализируемых элементов | На спектрометрах с дисперсией по длинам волн: от -4Be до -92U
На энергодисперсионном спектрометре: от -5B до -92U |
| Количество спектрометров | С дисперсией по длинам волн: от 1 до 5
Энергодисперсионных: 1 |
| Диапазон детектируемых длин волн | От 0,087 до 9,3 нм |
| Столик образцов |
| Диапазон перемещений образца | X: ±-90 мм- Y: ±-90 мм |
| Максимальный размер образца | 150 мм х 150 мм х 50 мм |
| Скорость перемещений столика образцов | До 15 мм/с |
| Точность позиционирования столика образцов | Не более 0,5 мкм |
| Приставки |
| Устанавливаемые приставки | Столик для образцов больших размеров
Система катодолюминесценции
Система дифракции отраженных электронов (ДОРЭ) |
Competitor's products
|
|
БИК-анализатор KJT-270
|
|
|
Анализатор качества бензина и дизельного топлива
|
|
|
Анализатор влажности "Эвлас-2М"
|
|
|
БИК -анализатор зерна и семян ИНФРАСКАН 105
|
|
|
Анализатор кетоновый тел и глюкозы в крови КРС CentriVet
|
|
|
Анализатор ТЕ1600 Tecna 1600
|
|
|
Ультразвуковой анализатор ЭКОМИЛК Стандарт
|
|
|
Анализатор качества Лактан 1-4М, исп. 220
|
|
|
Портативный NIR-анализатор для анализа биомассы, силоса, кормов для животных
|
|
|
Анализатор соматических клеток Lactoscan (Лактоскан) SCC
|
|
|
Анализатор кормов AgriNIR
|
|
|
Анализатор ситовой А 20 Вибротехник
|
|
