Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV100ND Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND Максимальный размер образца: 150 х 100 мм. Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете. Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений. Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. Подходит для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Кроме того, возможно выполнять наблюдения по методу фазового контраста и ДИК при диаскопическом освещении. Отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Высокая числовая апертура и большое рабочее расстояние являются залогом высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений. Модель снабжена надлежащей защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками. Компоненты микроскопа – основание, предметный столик, осветительный блок и др. выполнены в виде отдельных модулей для обеспечения большей универсальности системы, которые можно комбинировать друг с другом для получения системы с нужными характеристиками Возможные методы исследования: Светлое поле Темное поле ДИК Флуоресценция Простая поляризация Фазовый контраст Двухлучевая интерферметрия Применение:
Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV100ND
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND
Максимальный размер образца: 150 х 100 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.
Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений.
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. Подходит для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Кроме того, возможно выполнять наблюдения по методу фазового контраста и ДИК при диаскопическом освещении. Отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Высокая числовая апертура и большое рабочее расстояние являются залогом высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений. Модель снабжена надлежащей защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками.
Компоненты микроскопа – основание, предметный столик, осветительный блок и др. выполнены в виде отдельных модулей для обеспечения большей универсальности системы, которые можно комбинировать друг с другом для получения системы с нужными характеристиками
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
ДИК
Флуоресценция
Простая поляризация
Фазовый контраст
Двухлучевая интерферметрия
Применение:
Антенны, Телекоммуникации и электроника, МЭМС, Металлургия, Композиты,Медицинские приборы, Ткани/текстиль, Металлургическая промышленность,Анализ дефектов и причин разрушения, Оптические телескопические системы,Мобильные телефоны, бритвы и часы.
Особенности
Изучение крупных образцов - позволяет изучать поверхности изделий прецизионного формования, оптических материалов и прочих крупногабаритных образцов
Широкий выбор предметных столиков и дополнительного оборудования - выбираются подходящие модули на основании используемых образцов и хода столика
Предметные столики других производителей – совместимость с моторизованными предметными столиками других производителей, таких как Prior Scientific со специальными адаптерами позволяет изучать образцы с высотой до 116.5 мм, благодаря чему появляется возможность изучать торцы оптоволокна и других подобных образцов
Галогенный источник освещения 12В-50Вт - Несмотря на то, что ламповый блок с предварительным центрированием имеет напряжение12В и мощность 50Вт, его яркость эквивалентна или превышает показатели источников с параметрами 12 В-100Вт. Экологичная галогенная лампа с низким энергопотреблением позволила реализовать компактную конструкцию микроскопа. Также благодаря такому типу освещения значительно снижается расфокусировка, связанная с тепловым воздействием.
Светодиодный осветитель - Светодиодный осветитель белого света был разработан специально для работы по методу светлого поля. Он управляется с помощью подключенного контроллера. Используя контроллер, внешнее управление так же возможно.
NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений
Управление моторизированными узлами микроскопа
получения изображений
анализ изображений и обработка
Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.
Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
Увеличенная глубина резкости (EDF) – комбинирует сфокусированные изображения для разных положений по оси Z и создает трехмерную картинку
Характеристики
Базовый блок Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения Максимальная высота образца 38 мм Фокусировочный механизм Слева: грубая и точная фокусировка/Справа: точная фокусировка, ход 40 мм, Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки) Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм) Револьверы объективов Шестиместный револьвер Пятиместный универсальный револьвер "Интеллектуальный" пятиместный универсальный револьвер Эпископический осветитель Осветитель LV-UEPI-N 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Осветитель LV-UEPI2 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпифлуоресценция, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Ртутный осветитель Intensilight C-HGFI 130 Вт с предварительной центровкой Диаскопический осветитель Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика) Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11) Окулярный тубус Тринокулярный тубус LV-TI3 ESD (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Наклоняемый тринокулярный тубус LV-TT2 TT2 (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Бинокулярный тубус P-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) Тринокулярный тубус P-TT2 (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) Предметный столик Предметный столик LV-S32 3x2 (Диапазон перемещений: 75x50 мм включая стеклянную пластину), предметный столик LV-S64 6x4 (Диапазон перемещений: 150x100 мм включая стеклянную пластину) NIU-CSRR2 Вращающийся предметный столик с керамическим покрытием (Диапазон перемещений: 78х54 мм) Конденсор Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д. Окуляры Окуляры серии CFI: 10х (поле зрения 22 мм), 10х фотомаска М (поле зрения 22 мм), 10Х фотомаска поля зрения камеры (поле зрения 22 мм), 15х (поле зрения 22 мм), UW 10х (поле зрения 25 мм), UW 10 х фотомаска М (поле зрения 25 мм) Объектив Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения Энергопотребление 1,2A/75Вт
SHOW IN FULL ≚
Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV100ND
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND
Максимальный размер образца: 150 х 100 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.
Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений.
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. Подходит для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Кроме того, возможно выполнять наблюдения по методу фазового контраста и ДИК при диаскопическом освещении. Отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Высокая числовая апертура и большое рабочее расстояние являются залогом высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений. Модель снабжена надлежащей защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками.
Компоненты микроскопа – основание, предметный столик, осветительный блок и др. выполнены в виде отдельных модулей для обеспечения большей универсальности системы, которые можно комбинировать друг с другом для получения системы с нужными характеристиками
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
ДИК
Флуоресценция
Простая поляризация
Фазовый контраст
Двухлучевая интерферметрия
Применение:
Антенны, Телекоммуникации и электроника, МЭМС, Металлургия, Композиты,Медицинские приборы, Ткани/текстиль, Металлургическая промышленность,Анализ дефектов и причин разрушения, Оптические телескопические системы,Мобильные телефоны, бритвы и часы.
Особенности
Изучение крупных образцов - позволяет изучать поверхности изделий прецизионного формования, оптических материалов и прочих крупногабаритных образцов
Широкий выбор предметных столиков и дополнительного оборудования - выбираются подходящие модули на основании используемых образцов и хода столика
Предметные столики других производителей – совместимость с моторизованными предметными столиками других производителей, таких как Prior Scientific со специальными адаптерами позволяет изучать образцы с высотой до 116.5 мм, благодаря чему появляется возможность изучать торцы оптоволокна и других подобных образцов
Галогенный источник освещения 12В-50Вт - Несмотря на то, что ламповый блок с предварительным центрированием имеет напряжение12В и мощность 50Вт, его яркость эквивалентна или превышает показатели источников с параметрами 12 В-100Вт. Экологичная галогенная лампа с низким энергопотреблением позволила реализовать компактную конструкцию микроскопа. Также благодаря такому типу освещения значительно снижается расфокусировка, связанная с тепловым воздействием.
Светодиодный осветитель - Светодиодный осветитель белого света был разработан специально для работы по методу светлого поля. Он управляется с помощью подключенного контроллера. Используя контроллер, внешнее управление так же возможно.
NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений
Управление моторизированными узлами микроскопа
получения изображений
анализ изображений и обработка
Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.
Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
Увеличенная глубина резкости (EDF) – комбинирует сфокусированные изображения для разных положений по оси Z и создает трехмерную картинку
Характеристики
Базовый блок
Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения
Максимальная высота образца
38 мм
Фокусировочный механизм
Слева: грубая и точная фокусировка/Справа: точная фокусировка, ход 40 мм, Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки) Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм)
Осветитель LV-UEPI-N 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Осветитель LV-UEPI2 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпифлуоресценция, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Ртутный осветитель Intensilight C-HGFI 130 Вт с предварительной центровкой
Диаскопический осветитель
Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика) Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11)
Окулярный тубус
Тринокулярный тубус LV-TI3 ESD (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Наклоняемый тринокулярный тубус LV-TT2 TT2 (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Бинокулярный тубус P-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) Тринокулярный тубус P-TT2 (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм)
Предметный столик
Предметный столик LV-S32 3x2 (Диапазон перемещений: 75x50 мм включая стеклянную пластину), предметный столик LV-S64 6x4 (Диапазон перемещений: 150x100 мм включая стеклянную пластину) NIU-CSRR2 Вращающийся предметный столик с керамическим покрытием (Диапазон перемещений: 78х54 мм)
Окуляры серии CFI: 10х (поле зрения 22 мм), 10х фотомаска М (поле зрения 22 мм), 10Х фотомаска поля зрения камеры (поле зрения 22 мм), 15х (поле зрения 22 мм), UW 10х (поле зрения 25 мм), UW 10 х фотомаска М (поле зрения 25 мм)
Объектив
Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения
Энергопотребление
1,2A/75Вт
Competitor's products
Трихинеллоскоп
Микроскоп XS-2610 MICROmed монокулярный
Микроскоп биологический Kruss MBL 2000
Микроскопы
Микроскоп лабораторный CX21 (Olympus)
Цифровой микроскоп
Микроскоп лабораторный цифровой MUS4 с LCD 4MP камерой
