Эллипсометр лазерный SE 400adv

Лазерный эллипсометр SE 400adv SE 400adv - новейший лазерный (сканирующий) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высоко­точного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Длина волны - 632,8 нм Диапазон измерения толщины пленк: 1 нм до 6000 нм. Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или двухслойных пленок (с известными параметрами подслоя) в производстве или лаборатории. Особенности Высокая стабильность и точность при измерении с источником света (HeNe лазер, 632,8 нм.), термостабилизированный компенсатор, управление поляризатором, детектор сверх низких шумов. Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью авто­коллиматического телескопа (АСТ). Полностью интегрированная поддержка для многоугловых измерений с продвинутым программным обеспечением SENTECH. Полный пакет предустановленных применений в микроэлектро­нике, фотовольтаике (солнечные элементы) и др. Дружественный интерфейс и легкость работы. Высокая скоростьизмерений Программное обеспечение SENTECH для проведения эллипсометрических измерений, включающее в себя библиотеку приложений n, k массивного материала толщина монослоев толщина и индекс преломления монослоев толщина и индекс преломления верхнего слоя двойного слоя заданные эллипсометрические приложения Опции: - 30 мкм микроспот (фокусировка пятна) - Столик с ручной регулировкой x-y (перемещение - 150 мм) для картирования (mapping) - Мото­ризованные столики с компьютерным управлением для обрацов диаметром до 200 мм и перемещением с высокой точностью для меппинга (картирования) - Видеокамера для выравнивания образца взамен окуляра с выводом изображения и РС. - Жидкостная ячейка - Авто­фоку

SHOW IN FULL ≚