Рефлектометр RM 1000

Рефлектометры серии RM 1000/RM 2000 от SENTECH Instruments GmbH Спектроскопические (спетральные) рефлектометры моделей RM 1000 и RM 2000 производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) для исследований и производства. Применяются для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света. Измерение показателя преломления и толщины пленок и абсорбци на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектро­ники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.) Спектральный диапазон: RM 1000: 430-930 нм. RM 2000: 200 - 1000 нм. В область измерений, осуществляемых данными приборами, входят измерения однослойных и многослойных покрытий на полупроводниках, стекле, пластике, металле и глянцевой бумаге Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или многослойных прозрачных и полупрозрачных пленок в производстве или лаборатории. Особенности Измерение пленок как на гладких так и на шероховатых поверхностях. Расширенный диапазон измерения толщин пленок от 2 до 50000 нм (в зависимости от модели). Размер пятна измерения 80 и 100 мкм, что позволяет проводить измерения напластине с топологией Высокая стабильность и точность при измерении. Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью авто­коллиматического телескопа (АСТ). Полный пакет предустановленных применений в микроэлектро­нике, фотовольтаике (солнечные элементы) и др. Дружественный интерфейс и легкость работы. Высокая скорость измерений Программное обеспечение FTPadv EXPERT SENTECH для проведения измерений, включающее в себя библиотеку приложений n, k массивного материала толщина монослоев толщина и индекс преломления монослоев толщина и индекс преломления верхнего слоя и многослойной структуры Большая база данных материалов для измерений Опции:

ПОКАЗАТЬ ПОЛНОСТЬЮ ≚