Прибор для измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок EddyCus TF lab

EddyCus® TF lab

SURAGUS GmbH (Германия) - немецкая компания, специализирующаяся на предоставлении решений для неразрушающего контроля материалов (Измерение удельного сопротивления материалов и пленок - sheet-resistance-measurements for thin films characterization). Компания исполь­зует новые технические возможности и технические достижения в области микроэлектро­ники, технологии производства и миниатюризации, а также компьютерные технологии для разработки решений в электро­индуктивной дефектоскопии для нужд заказчиков.

Общие применения разнообразны и включают в себя архитектурные стекла, датчики сенсорных панелей, дисплеи, приложения OLED, PV, смарт-стекло, прозрачные антистатические пленки или фольги, нагревательные приборы и многое другое. Типичными тестируемыми (измеряемыми) материалами являются металлические слои (например, Ag, Cu, Al), TCO (например, ZnO, ITO, FTO), углеродные нанотрубки (CNT), металлические нанопровода, графен, легированные кремниевые пластины и многие другие. Серия EddyCus TF включает стандартные и индивидуальные решения для лабораторных (lab) и линейных приложений (inline), а также для картографирования с высоким разрешением (map) и переносных решений (partable).

EddyCus® TF lab производства SURAGUS GmbH (Германия) - лабораторный прибор для измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок. Измерение в одной точке.

EddyCus® TF lab - настольная система для бесконтактного измерения поверхностного сопротивения и толщины пленок. Системы предназна­чены для быстрой и точной бесконтактной характеризации пленок в научно-исследовательских лабораториях, исследовательских центрах и отделах обеспечения качества производственных площадок. Каждая система оснащена простым в исполь­зовании программным обеспечением для измерения толщины тонких пленок, толщины стенок и измерения удельного поверхностного сопротивления пленок.

Применение:

• Архитектурное стекло (LowE)
• Дисплеи, сенсорные экраны
• OLED и LED применения
• Смарт-стекла
• Графеновые слои
• Фотовольтаика
• Полупроводниковые пластины
• Слои метализации
• Слои для борьбы с обледенением
• Электро­ды батарей
• Упаковочная пленка или фольга
• Проводящая бумага и проводящий текстиль

Измеряемые параметры:

• Поверхностное сопротивление R_sq [Ом/квадрат]
• Толщина металлических слоев [мкм, нм]
• Инфо-тип (Emissiv­ity) (e)

EddyCus® TF lab

SURAGUS GmbH (Германия) - немецкая компания, специализирующаяся на предоставлении решений для неразрушающего контроля материалов (Измерение удельного сопротивления материалов и пленок - sheet-resistance-measurements for thin films characterization). Компания исполь­зует новые технические возможности и технические достижения в области микроэлектро­ники, технологии производства и миниатюризации, а также компьютерные технологии для разработки решений в электро­индуктивной дефектоскопии для нужд заказчиков.

Общие применения разнообразны и включают в себя архитектурные стекла, датчики сенсорных панелей, дисплеи, приложения OLED, PV, смарт-стекло, прозрачные антистатические пленки или фольги, нагревательные приборы и многое другое. Типичными тестируемыми (измеряемыми) материалами являются металлические слои (например, Ag, Cu, Al), TCO (например, ZnO, ITO, FTO), углеродные нанотрубки (CNT), металлические нанопровода, графен, легированные кремниевые пластины и многие другие. Серия EddyCus TF включает стандартные и индивидуальные решения для лабораторных (lab) и линейных приложений (inline), а также для картографирования с высоким разрешением (map) и переносных решений (partable).

EddyCus® TF lab производства SURAGUS GmbH (Германия) - лабораторный прибор для измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок. Измерение в одной точке.

EddyCus® TF lab - настольная система для бесконтактного измерения поверхностного сопротивения и толщины пленок. Системы предназна­чены для быстрой и точной бесконтактной характеризации пленок в научно-исследовательских лабораториях, исследовательских центрах и отделах обеспечения качества производственных площадок. Каждая система оснащена простым в исполь­зовании программным обеспечением для измерения толщины тонких пленок, толщины стенок и измерения удельного поверхностного сопротивления пленок.

Применение:

• Архитектурное стекло (LowE)
• Дисплеи, сенсорные экраны
• OLED и LED применения
• Смарт-стекла
• Графеновые слои
• Фотовольтаика
• Полупроводниковые пластины
• Слои метализации
• Слои для борьбы с обледенением
• Электро­ды батарей
• Упаковочная пленка или фольга
• Проводящая бумага и проводящий текстиль

Измеряемые параметры:

• Поверхностное сопротивление R_sq [Ом/квадрат]
• Толщина металлических слоев [мкм, нм]
• Инфо-тип (Emissiv­ity) (e)