Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 от JEOL Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах. Особенности Основные преимущества JPS-9030: Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений; Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца; Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS); Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум; Инфракрасная нагревательная приставка позволя
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 от JEOL
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.
Особенности
Основные преимущества JPS-9030:
- Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений;
- Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца;
- Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS);
- Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум;
- Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°C и выше;
- Высоковакуумный транспортировочный контейнер предохраняет образцы от контакта с атмосферой при переноске.
- Интуитивно понятный пользовательский интерфейс.
Характеристики
Рентгеновский источник
Анод Al/Mg
Ускоряющее напряжение 3-12 кВ
Ток катод-анод 2,5-50мА
Интенсивность пика Ag 3d5/2 (возбуждение Mg Ka, 300 Вт)
Разрешение (Ag 3d5/2, ПШПВ) 1,0 эВ
Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Интенсивность пика более 1 000 000 имп./с
Анализатор энергии электронов
Тип анализатора полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты 100 мм
Детектор микроканальная пластина
Входные линзы комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям Constant Analyzer Energy (CAE)
Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения 5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии 0 – 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования 0,025 эВ
Энергетическое разрешение ΔE/E (CRR) от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов
Диапазон перемещений образца X: 50 мм; Y: 18 мм; Z: ±2 мм, T (наклон): от -10 до +10°
Максимальный размер образца 90 мм в диаметре; 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов 7×10-8 Па и ниже
Система отжига Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки Камера подготовки образцов
Газовый реактор
Вторично-ионный масс-спектрометр
Приставка для нагрева и охлаждения образцов
Высоковакуумный транспортировочный контейнер
*возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 от JEOL
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.
Особенности
Основные преимущества JPS-9030:
- Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений;
- Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца;
- Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS);
- Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум;
- Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°C и выше;
- Высоковакуумный транспортировочный контейнер предохраняет образцы от контакта с атмосферой при переноске.
- Интуитивно понятный пользовательский интерфейс.
Характеристики
Рентгеновский источник
|
| Анод | Al/Mg |
| Ускоряющее напряжение | 3-12 кВ |
| Ток катод-анод | 2,5-50мА |
| Интенсивность пика Ag 3d5/2 (возбуждение Mg Ka, 300 Вт) |
| Разрешение (Ag 3d5/2, ПШПВ) | 1,0 эВ |
| Максимальная мощность | 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al) |
| Интенсивность пика | более 1 000 000 имп./с |
Анализатор энергии электронов
|
| Тип анализатора | полусферический электростатический |
| Радиус центральной орбиты | 100 мм |
| Детектор | микроканальная пластина |
| Входные линзы | комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора |
| Развертка по энергиям | Constant Analyzer Energy (CAE)
Constant Retarding Ratio (CRR) |
| Энергия прохождения | 5-200 эВ |
| Диапазон сканирования по энергии | 0 – 1480 эВ |
| Минимальный шаг сканирования | 0,025 эВ |
| Энергетическое разрешение ΔE/E (CRR) | от 0,15 до 0,5 % |
Столик образцов
|
| Диапазон перемещений образца | X: 50 мм; Y: 18 мм; Z: ±2 мм, T (наклон): от -10 до +10° |
| Максимальный размер образца | 90 мм в диаметре; 1,5 мм высотой |
| Вакуумная система |
| Давление в камере образцов | 7×10-8 Па и ниже |
| Система отжига | Встроенная, автоматическая |
| Устанавливаемые приставки | Камера подготовки образцов
Газовый реактор
Вторично-ионный масс-спектрометр
Приставка для нагрева и охлаждения образцов
Высоковакуумный транспортировочный контейнер
*возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd. |
