Рефлектометр серии RM 1000/RM 2000 от SENTECH Instruments GmbH

ціну уточнюйте

роздріб та опт

в наявності

☎ показати телефон

Додати у кошик

Спектроскопические (спетральные) рефлектометры моделей RM 1000 и RM 2000 производства - SENTECH Instruments GmbH -(Германия) -для исследований и производства. -Применяются для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света. Измерене показателя преломления и толщины пленок и абсорбци на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.) - Спектральный диапазон: RM 1000: - 430-930 нм. - RM 2000: - 200 - 1000 нм. В область измерений, осуществляемых данными приборами, входят измерения однослойных и многослойных покрытий на полупроводниках, стекле, пластике, металле и глянцевой бумаге Применение: - Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или многослойных прозрачных и полупрозрачных пленок в производстве или лаборатории. Особенности Измерение пленок как на гладких так и на шероховатых поверхностях. Расширенный диапазон измерения толщин пленок от 2 до 50000 нм (в зависимости от модели). Размер пятна измерения 80 и 100 мкм, что позволяет проводить измерения напластине с топологией Высокая стабильность и точность при измерении. - Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью -автоколлиматического телескопа (АСТ) . Полный пакет предустановленных применений в микроэлектронике, фотовольтаике (солнечные элементы) -и др. Дружественный интерфейс и легкость работы. Высокая скорость измерений Программное обеспечение FTPadv EXPERT SENTECH -для проведения измерений, включающее в себя библиотеку приложений n, k массивного материала толщина монослоев толщина и индекс преломления монослоев толщина - и - индекс - преломления - верхнего - слоя и многослойной структуры Большая база данных мате

Спектроскопические (спетральные) рефлектометры моделей RM 1000 и RM 2000 производства -SENTECH Instruments GmbH -(Германия) -для исследований и производства. -Применяются для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света.
Измерене показателя преломления и толщины пленок и абсорбци на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.) -

Спектральный диапазон:
RM 1000: - 430-930 нм. -
RM 2000: - 200 - 1000 нм.

В область измерений, осуществляемых данными приборами, входят измерения однослойных и многослойных покрытий на полупроводниках, стекле, пластике, металле и глянцевой бумаге

Применение: -Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или многослойных прозрачных и полупрозрачных пленок в производстве или лаборатории.

Особенности

Измерение пленок как на гладких так и на шероховатых поверхностях.
Расширенный диапазон измерения толщин пленок от 2 до 50000 нм (в зависимости от модели).
Размер пятна измерения 80 и 100 мкм, что позволяет проводить измерения напластине с топологией
Высокая стабильность и точность при измерении. -
Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью -автоколлиматического телескопа (АСТ).
Полный пакет предустановленных применений в микроэлектронике, фотовольтаике (солнечные элементы) -и др.
Дружественный интерфейс и легкость работы.
Высокая скорость измерений
Программное обеспечение FTPadv EXPERT SENTECH -для проведения измерений, включающее в себя библиотеку приложений
n, k массивного материала
толщина монослоев
толщина и индекс преломления монослоев
толщина - и - индекс - преломления - верхнего - слоя и многослойной структуры
Большая база данных материалов для измерений
Опции:
- -Моторизованные столики с компьютерным управлением -для обрацов диаметром до -200 мм и перемещением с высокой точностью для меппинга (картирования)
- Видеокамера для выравнивания образца взамен окуляра с выводом изображения и РС.
- ПО для иммитационного моделирования -(SpectraRay/3)
- Установка для измерений пленок на кристаллическом кремнии (текстурированном)Брошюра RM 1000 в PDF
Брошюра RM 2000 в PDF

Модель RM 1000 RM 2000
Измеряемые величины Толщина пленки, индекс преломления, абсорбция и др.
Принцып действия Интерферренция белого света при нормальном -угле падения Интерферренция белого света при нормальном -угле падения
Спектральный диапазон - - - - - - - - 430 - 930 нм. 200 - 1000 нм.
Время измерения около 300 мс. около 300 мс.
Диапазон измеряемых толщин 20 - 25000 нм. (в зависимости от пленки) 2 - 50000 нм. (в зависимости от пленки)
Диамерт светового пятна 80 мкм 100 мкм.
Точность измерения тощины 1 нм (изм. 400 нм SiO2/Si)
Воспроизводимость (1&sigma-) 0,3 нм. - -(изм. 400 нм SiO2/Si)
Источник света Стаблизированная галогеновая лампа Стабилизированные дейтериумная и галогеновая лампы
Программное обеспечение FTPadv Expert

id позиции 5406065

Спектроскопические (спетральные) рефлектометры моделей RM 1000 и RM 2000 производства -SENTECH Instruments GmbH -(Германия) -для исследований и производства. -Применяются для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света.
Измерене показателя преломления и толщины пленок и абсорбци на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.) -

Спектральный диапазон:
RM 1000: - 430-930 нм. -
RM 2000: - 200 - 1000 нм.

В область измерений, осуществляемых данными приборами, входят измерения однослойных и многослойных покрытий на полупроводниках, стекле, пластике, металле и глянцевой бумаге

Применение: -Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или многослойных прозрачных и полупрозрачных пленок в производстве или лаборатории.

Особенности

Измерение пленок как на гладких так и на шероховатых поверхностях.
Расширенный диапазон измерения толщин пленок от 2 до 50000 нм (в зависимости от модели).
Размер пятна измерения 80 и 100 мкм, что позволяет проводить измерения напластине с топологией
Высокая стабильность и точность при измерении. -
Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью -автоколлиматического телескопа (АСТ).
Полный пакет предустановленных применений в микроэлектронике, фотовольтаике (солнечные элементы) -и др.
Дружественный интерфейс и легкость работы.
Высокая скорость измерений
Программное обеспечение FTPadv EXPERT SENTECH -для проведения измерений, включающее в себя библиотеку приложений
n, k массивного материала
толщина монослоев
толщина и индекс преломления монослоев
толщина - и - индекс - преломления - верхнего - слоя и многослойной структуры
Большая база данных материалов для измерений
Опции:
- -Моторизованные столики с компьютерным управлением -для обрацов диаметром до -200 мм и перемещением с высокой точностью для меппинга (картирования)
- Видеокамера для выравнивания образца взамен окуляра с выводом изображения и РС.
- ПО для иммитационного моделирования -(SpectraRay/3)
- Установка для измерений пленок на кристаллическом кремнии (текстурированном)Брошюра RM 1000 в PDF
Брошюра RM 2000 в PDF

Модель	RM 1000	RM 2000
Измеряемые величины	Толщина пленки, индекс преломления, абсорбция и др.
Принцып действия	Интерферренция белого света при нормальном -угле падения	Интерферренция белого света при нормальном -угле падения
Спектральный диапазон - - - - - - - -	430 - 930 нм.	200 - 1000 нм.
Время измерения	около 300 мс.	около 300 мс.
Диапазон измеряемых толщин	20 - 25000 нм. (в зависимости от пленки)	2 - 50000 нм. (в зависимости от пленки)
Диамерт светового пятна	80 мкм	100 мкм.
Точность измерения тощины	1 нм (изм. 400 нм SiO2/Si)
Воспроизводимость (1&sigma-)	0,3 нм. - -(изм. 400 нм SiO2/Si)
Источник света	Стаблизированная галогеновая лампа	Стабилизированные дейтериумная и галогеновая лампы
Программное обеспечение	FTPadv Expert