Дифрактометр рентгеновский Advan XRD Pro

Рентгеновский дифрактометр Advan XRD Pro

Дифрактометр AdvanXRD Pro является общей системой построенной на исполь­зовании дифракции рентгеновских лучей. Прибор имеет различные конфигурации рентгеновской оптики для различных экспериментальных требований. Дифрактометр AdvanXRD Pro оснащен двумя детекторами, стандартным сцинтилляционным детектором и детектором скорости. Прибор позвояет проводить очень быстрое сканирование для идентификации простых по составу порошков, а также длительное сканирование, как правило, необходимое для анализа сложных смешанных фаз, с высоким разрешением, идентификации микропримесей. Возможны два режима сканирования, непрерывный режим сканирования, который объединяет счет на небольшом угловом диапазоне (быстрое сканирование), и шаговый режим сканирования, который исполь­зуется для медленного сканирования и любой точной работы.

Спецификация

• Высоко­стабильный генератор рентгеновского излучения с длительным сроком службы.
  • Максимальная выходная мощность 3 кВт (4кВт)
  • Максимальное выходное напряжение 15-60 кВ
  • Максимальный выходной ток 6-80 мА
  • Минимальный шаг изменения напряжения 1 кВ
  • Минимальный шаг изменения силы тока 1 мА
  • Стабильность

Рентгеновский дифрактометр Advan XRD Pro

Дифрактометр AdvanXRD Pro является общей системой построенной на исполь­зовании дифракции рентгеновских лучей. Прибор имеет различные конфигурации рентгеновской оптики для различных экспериментальных требований. Дифрактометр AdvanXRD Pro оснащен двумя детекторами, стандартным сцинтилляционным детектором и детектором скорости. Прибор позвояет проводить очень быстрое сканирование для идентификации простых по составу порошков, а также длительное сканирование, как правило, необходимое для анализа сложных смешанных фаз, с высоким разрешением, идентификации микропримесей. Возможны два режима сканирования, непрерывный режим сканирования, который объединяет счет на небольшом угловом диапазоне (быстрое сканирование), и шаговый режим сканирования, который исполь­зуется для медленного сканирования и любой точной работы.

Спецификация

• Высоко­стабильный генератор рентгеновского излучения с длительным сроком службы.
  • Максимальная выходная мощность 3 кВт (4кВт)
  • Максимальное выходное напряжение 15-60 кВ
  • Максимальный выходной ток 6-80 мА
  • Минимальный шаг изменения напряжения 1 кВ
  • Минимальный шаг изменения силы тока 1 мА
  • Стабильность <0.01 %
  • Кабель высоко­го напряжения 100 кВ, длина 2 м.
  • Защитные схемы и сигнальные индикаторы:
    • КВ высоко и низко защитные схемы.
    • Схемы защиты от перегрузок, 6 видов: 0.35kW, 0.7kW, 1.0kW, 1.5kW, 2.0kW, 2.7kW Six Grade
    • Защитные схемы от перегрузки линий: 20A
    • Индикаторы водяной системы охлаждения.
    • Радиационная защита с предохранительным механизмом.


• Рентгеновская трубка с длительным сроком службы
  • Материал анода: медь, NF модель
  • Максимальная мощность: 2.0 кВт
  • Фокус: 1мм x 10 мм
  • Перестройка фокуса: линия / точка
• Гониометр
  • Тип: Вертикальный (&Theta-2&Theta); (&Theta-&Theta)
  • Радиус гониометра: 180 мм (перестраиваемый 150-285 мм)
  • Диапазон измерения: -30 °~ + 160° (2Θ)
    -30 °~ + 88° (Θs)
    -30 ° ~ + 160° (Θd)
  • Режимы сканирования:
    (Θ-2Θ) связанный
    Θ,2Θ независимый
    Θs-Θd связанный режим
    Θ, 2Θ независимый режим
  • Режимы работы: Непрерывное сканирование, ГРМ Шаг сканирования, постоянный шаг сканирования
  • Диапазон скорости сканирования: 0/125°-120°/мин
  • Минимальный шаг: 0.00025°
  • Воспроизводимость: 0.0006°
  • Точность: 0.001°
  • Щели: Щель расходимости: 1/6 ° 1/2 ° 1 ° 2 °
    Приемная щель: 0.1, 0.15, 0.3, 0.45, 0.6, 1.0, 2.0 мм
    анти-рассеивающие щели: 1/2 ° 1 ° 2 °
    нулевая щель: 0.02 мм
    Диафрагма Соллера: два набора
  • Фильтр: Ni
• Детектор
  • Тип: Сцинтилляционный счетчик
  • Кристалл: NaI.
  • Максимальная линейная скорость счета: 500,000 counts/s
  • Максимальный уровень шума: <1 counts/s.
• PHA система
  • Линейный усилитель
    • Усиление 5-100, для настройки бинарными степенями.
    • Стабильность прироста: <±0.3%.
    • Нелинейный коэффициент искажения: 0.1-10В.
    • Уровень шума, преобразовываемый на вход (стандартное отклонение): <15 µV
  • Анализатор высоты пульса
    • Уровень: 0.1-10В
    • Туннель: 50мВ-5В
    • Стабильность: дрейф < 15 милливольт для уровня и <15 милливольт для туннеля в течение 8 часов.
    • Время различения: 1 µs.
• Программное обеспечение
  • MSAL XD Операционная система.
    • Измерение дифракционной линии.
    • Подсчет за определенное время.
    • Время определенного счета.
    • Поворот гониометра.
    • Шаг гониометра вперед/назад.
    • Выравнивание гониометра.
    • Верификация Θ-Θ.
  • Обработка дифрактограммы.
    • Редактирование, показ и заговор образца дифракции.
    • Поиск пиков.
    • Измерение области пиков и анализ отдельного пика.
    • Устранение фона.
    • Сглаживание.
    • Сжатие образцов.
  • Обработка данных
    • Основные физические и химические константы.
    • Периодическая таблица элементов.
    
    
    • Основные физические свойства и кристаллические структуры элементов.
    • Показатели поглощения на единицу массы для элементов.
    • Вычисление 2Θ от d; вычисление d от 2Θ.
    • Reference intensity rate K.
    • К параметры характеристических спектров элементов.
• Аналитический блок
  • Качественный анализ (поиск/выявление),
  • Количественный анализ.
  • Индекс,уровень дифракционной линии
  • Уточнение параметров кристаллической решетки
  • Множественное разделение пиков.
  • Выделение KΑ2.
• Замкнутая система охлаждения
  • Максимальное давление воды: 0.7MPa
  • Контроль температуры.
• Монохроматор дифрагированного пучка с дуговым графитовым кристаллом
  • Радиус графита: 224 мм
  • Отражающая способность >28%
• Высоко­температурная камера
  • Температура до 1200 С
  • Программный контроль

Вспомогательное обору­дование

• Подставки для образцов
• Графитовый монохроматор с изогнутым кристаллом
• Ручная дробилка
• Агатовая ступка
• Вращающаяся платформа для образцов
• Мембрана параллельного пучка
• Высоко­температурная камера
• Сканирующий модуль
• Модуль контроля температуры охлаждающей жидкости

С помощью дифрактометра может быть изучена и идентифицирован состав и структура материалов. С помощью рентгеновского порошкового дифрактометра могут быть осуществлены следующие аналитические задачи.

Аналитика и получение данных

1. Структурный анализ: могут быть определено устройство всех видов соединений атомов в материалах.
2. Качественный и количественный фазовый анализ.
3. Может быть определено соотношение всех составных соединений.
4. Определить размер зерен материала, стресс, текстуру, ориентацию и способность к кристаллизации.